FLDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性、伏安特性、光谱特性、远场/近场特性和热特性。打印测试报告，保存数据。

 二、应用

LD参数测试仪系列产品测试光功率范围从0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从400-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，满足科研、生产、教学等需要。

l 系统按功能模快化, 采用单片机控制, 性能稳定可靠，维修使用方便；

l 测试功率覆盖范围宽：0.1mW~1000W以上；

l 测试封装类型：TO系列、光纤输出系列、Bar系列、管芯系列以及各种组件等等；

l 高质量的LD驱动电源：既可连续工作，又可脉冲工作，具有LD过流保护、低噪声、无浪涌和过脉冲保护等功能；

l 自动化程度高：整个测试、数据采集和数据处理、显示及打印都由系统自动完成；

l 操作简单、测量速度快。

系统主要功能包括测量LD的光电特性（LI和LI_M）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场特性（FF）、近场特性（NF）和热特性（T），具体如下：

l 进行LIV和LI测试，绘制LIV曲线和LI_M曲线，检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数；

l 进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长、光谱谱宽；

l 进行远场测试: 绘制远场曲线，推算水平发散角、垂直发散角；

l 进行热阻测试；

l 测试数据能够保存、导入，可打印标准测试报告。

l 可测量参数：