聚酰亚胺薄膜测厚仪(PI膜测厚仪)适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。CHY-C2采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

聚酰亚胺薄膜测厚仪执行标准：
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

聚酰亚胺薄膜测厚仪技术指标：
负荷量程：0～2 mm（常规）；0～6 mm；12 mm（可选）
分辨率：0.1 μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
          注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm(L)× 275 mm(W)× 300mm(H)
净重：33kg

聚酰亚胺薄膜测厚仪仪器配置：
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

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