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影响涂层测厚仪计量校正精度的六大因素-深圳仪器校准服务
更新时间:2015-04-23 17:02 免费会员
东莞仪器检测服务有限公司
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  涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。在了解了涂层测厚仪原理的同时,我们也应该了解影响涂层测厚仪精度的因素:
 
  1.试件的变形
 
  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。 
 
  2.曲率
 
  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
 
  3.基体金属电性质 
 
  基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
 
  4.附着物质
 
  本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
 
  5.测头的取向
 
  涂层测厚仪计量校正测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直,本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
 
  6.表面粗糙度
 
  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量涂层测厚仪时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
 
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