测微头　百刻线测微头
适用范围:光学仪器测量 测试。
微分头适用于光学仪器平台精密调节位移量。
分辨率：0.01mm，丝杆螺距：1mm
编号 测量范围 分辨率
0004-000 0-25mm 0.01 mm
0014-000 0-25mm 0.01 mm
0004-030 0-25mm 0.01 mm
0014-030 0-25mm 0.01 mm